产品方案
产品方案
X射线晶圆污染量测设备Åthena Xcellence™ F 系列
全反射X射线荧光(TXRF)测量技术;
快速、准确检测晶圆表面各类沾污、金属污染等。
微信公众号
深圳市埃芯半导体科技有限公司版权所有
网站备案号:粤ICP备2023084378号   粤公网安备 44030902004036号