产品方案
产品方案|服务
X射线轻元素及薄膜量测设备
Åthena Xcellence™ LE系列
Åthena Xcellence™ LE系列采用自主研发的高通量X射线荧光(XRF)技术,提供B, P, C, O, N, F等各种轻元素的成分量测。

埃芯公众号
深圳市埃芯半导体科技有限公司版权所有
地址:深圳市龙华区观光路1310号龙华区半导体产业园埃芯大楼
网站备案号:粤ICP备2023084378号   粤公网安备 44030902004036号