首页
关于埃芯
关于埃芯
发展历程
企业文化
产品方案
光学量测产品系列
X射线量测产品系列
科学仪器
新闻资讯
企业新闻
行业动态
合作与代理
诚招代理
招贤纳士
社会招聘
校园招聘
联系我们
English
产品方案
产品方案
X射线荧光量测产品Åthena Xcellence® TArray 系列
● 采用 XRF 技术搭配高灵敏度探测器
● 覆盖 micro-bump 金属组分及单层、多层复杂金属膜层的测量需求
● 支持混合键合 CMP 工艺监控等先进封装应用
微信公众号
深圳市埃芯半导体科技有限公司版权所有
网站备案号：
粤ICP备2023084378号
粤公网安备 44030902004036号